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[1]连彩江,罗毅,ADRIAN Evans,等.对FPGA配置码点软错误敏感性的细粒度研究(英文)[J].复旦学报(自然科学版),2019,01:72-86.
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对FPGA配置码点软错误敏感性的细粒度研究(英文)(PDF)

《复旦学报》(自然科学版)[ISSN:/CN:]

期数:
2019年01
页码:
72-86
栏目:
出版日期:
2019-02-18

文章信息/Info

Title:
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作者:
连彩江罗毅ADRIAN Evans WEN Shijie陈更生
Author(s):
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关键词:
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Keywords:
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分类号:
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DOI:
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文献标识码:
A
摘要:
本文对 Xilinx的 Virtex-4器件的配置存储器(ConfigurationRAM,CRAM)做了详尽的错误注入实验. 并给出了适用于 Virtex-4的逻辑资源与码流对应关系的详细信息,利用这些信息对实验结果进行分析可以找出 对电路可靠性影响最大的配置码点.本文用了两种错误模型来评估电路的可靠性,一个模型用来评估持续存在 的错误的影响,另一个模型用来评估瞬时错误对应用了重刷写技术的电路的影响.对实验结果的详尽分析为用 于 FPGA 的容错技术的研究提供了新的数据支持.本文的主要贡献包括一个能够进行细粒度定位错误注入的平 台、对 CRAM 中码点翻转造成的影响的详细分析、两个用于评估 CRAM 中码点翻转效应的指标以及对利用错 误注入的数据进行容错技术加强的方法. 关
Abstract:

参考文献/References

备注/Memo

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更新日期/Last Update: 2019-02-19